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高性能低雜散光CCD光譜儀
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高性能低雜散光CCD光譜儀
規(guī)格:
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產品介紹
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技術參數
產品視頻
產品特性：
- 結構緊湊
- 紫外波段低雜散光
- 具有紫外、紫外-近紅外波段兩種標準配制
- >0.4nm 光譜分辨率
- 16位模數轉換
- 最低1ms積分時間
- >2.0 MHz 讀出速度
- USB2.0通信
產品應用：
- 紫外、可見、近紅外波段的:
- 光譜分析 / 光譜輻射測量 /分光光度測定
- 波長鑒別
- 吸光度測量
- 反射率測量
- OEM 產品模塊
產品附件：
- 光纖
- 參考光源
- 比色皿支架
- 直通式濾光片支架
- 光纖探頭
軟件：
BWSpec®光譜數據采集軟件可執(zhí)行復雜的測量和計算。它允許用戶在多種數據格式之間進行選擇，并可以設置掃描參數，如積分時間。
除了強大的數據采集和數據處理功能外，還包括自動去除暗電流、光譜平滑和手動/自動基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
狹縫：
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狹縫
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尺寸
|
光譜分辨率 200-400nm
|
光譜分辨率 200-850nm
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10μm
|
10μm x 1mm
|
~0.4nm
|
~1.0nm
|
|
25μm
|
25μm x 1mm
|
~0.6nm
|
~1.5nm
|
|
50µm
|
50μm x 1mm
|
~1.0nm
|
~2.5nm
|
|
100μm
|
100μm x 1mm
|
~1.6nm
|
~4nm
|
|
200μm
|
200μm x 1mm
|
~3.0nm
|
~8nm
|
| 客戶定制可選 | |||
衍射光柵：
|
建議響應波段
|
光譜范圍(nm)
|
光柵
|
|
紫外
|
200-400
|
1800/250
|
|
紫外/可見
|
200-850
|
600/250
|
| 客戶定制可選 | ||
陣列探測器：
|
規(guī)格
|
|
|
波長范圍
|
200nm-850nm
|
|
像元
|
2048
|
|
尺寸
|
14µm x 200μm
|
|
阱深
|
~65,000 e
|
|
讀出速度
|
>2.0 MHz
|
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必達泰克光電設備（上海）有限公司
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電話：021-58585896，銷售熱線：021-58589528
網址：www.zhiai520.com 郵箱：info@bwtek.cn
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